磁光学光谱仪
磁光学光谱仪 光谱克尔/法拉第/椭圆偏振仪全自动旋光/薄膜测试站专为磁光材料研究和测试而设计，包括铁磁和亚铁磁薄膜和材料的磁性表征。测量包括超薄磁膜和多层膜的磁滞回线、椭圆度测量、介电材料的薄膜厚度测量、折射率、Delta 和 psi 测量等。系统可以在极化、纵向和横向配置下运行。。
特点：
380-850nm 测量范围
0.009度旋光分辨率
全自动控制
磁场检测和反馈设施
MOKE测量
椭圆偏振测量
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产品详情
磁光学光谱仪
光谱克尔/法拉第/椭圆偏振仪全自动旋光/薄膜测试站
磁光学光谱仪是一款利用 VIS-NIR 波长的创新型高灵敏度、高磁场光谱法拉第/克尔效应测量设备。A216 FR/KR 测试站提供标准化测试解决方案，以适应广泛的旋光测量应用。模块化硬件设计允许用户在单个仪器中自动测量法拉第效应、MOKE和椭圆偏振法。
专为磁光材料研究和测试而设计，包括铁磁和亚铁磁薄膜和材料的磁性表征。测量包括超薄磁膜和多层膜的磁滞回线、椭圆度测量、介电材料的薄膜厚度测量、折射率、Delta 和 psi 测量等。系统可以在极化、纵向和横向配置下运行。
仪器设计用于在380nm至845nm 的波长范围内进行磁光克尔（MOKE）和法拉第效应测量。这是一个基于HARS的极其灵活的测试站。可以测量任何具有克尔效应和法拉第效应的磁性薄膜、晶体或溶液。
测量项目：
具有法拉第效应的薄膜、晶体、流体等的光旋度测量
测量透明固体和液体的维尔德常数
法拉第旋转/椭圆度角。
极克尔旋转/椭圆度角。
磁场vs.所需波长下的法拉第旋转角特性
法拉第旋转角vs.波长色散特性
法拉第旋转角vs.热依赖性特性（可选）
测量光学特性
| 旋光度 薄膜厚度 折射率 吸收系数 光导率 相速度 群指数 布儒斯特角 |
空气中的折射率 摩尔折射率 光子能量 正则动量 动能 群速度 Psi – Delta Epsilon 1 和 2 |
温度控制选项：
型号：HC 85
样品室可从室温加热至 85°C，以测量温度依赖性。
型号：NC 70 低温（氮气低温恒温器）室样品支架，使用液氮将样品冷却至-70°c。
型号：TE 05
加热/冷却方法：TE 冷却器温度范围，-5至40°C
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HO-A216FR/KR-ORMS 软件窗口 |
Fig. 材料库软件窗口 |
