Z-Scan技术是一种简单而流行的实验技术，用于测量材料的强度相关非线性磁化率。Z-Scan系统是z-scan技术的简单实现，可用于表征光学材料。

在该方法中，样品沿聚焦高斯光束的轴平移，远场强度作为样品位置的函数进行测量。根据局部响应预测的强度与样品位置的 Z-Scan 曲线的分析给出了三阶磁化率的实部和虚部。在这种技术中，可以通过将样品平移进出入射激光束的焦点区域来测量光学效应。

Z-Scan系统包括用于线性扫描的精密电动平台、光电二极管组件以及用于运动控制和数据采集的机械支架和控制电子设备。高功率532nm CW DPSS 激光器用作光源。可以使用计算机界面对行进距离、数据采集间隔等参数进行编程。

图-Z 扫描理论透射率作为Z函数

实验可能

测量材料的强度相关非线性磁化率 – 与z扫描相关的两个可测量量是非线性吸收和非线性折射。这些参数与三阶非线性磁化率的虚部和实部相关，并提供有关材料特性的重要信息。