二极管激光表征研究装置是一种重要的教育仪器，用于研究光束轮廓，其探测器安装在 XYZ 平移台和二极管激光器上。在该装置中，探测器使用平移台沿激光束的横截面进行线性扫描，以紧密的间隔记录强度读数。

根据读数绘制图表，以找出高斯性质、发散度等属性。激光二极管设计用于产生具有椭圆形横截面和高斯强度分布的发散辐射锥。

为了研究激光束的偏振性质，使发散激光输出穿过固定在带有刻度的旋转支架上的偏振器。使用探测器和读数器，可以列出偏振器各个旋转位置的强度。偏振度随二极管电流而变化。

为了评估两个不同位置的光束点大小，首先找到一个位置Z1的光束点大小，即 ω1。
然后将探测器移动到第二个位置Z2，并找到光束点大小，即 ω2。
光束发散角 θ = tan-1 (| ω2 – ω1 | / d)
其中 d = | Z2 – Z1 |

可做实验：
A.研究激光束的高斯性质
B. 确定激光束的直径（光束点尺寸）
C. 确定激光束的发散度
D. 研究激光束的偏振特性