为了精确测定角度位置，特别是对于光谱应用，我们推出了一款新型高精度 0.0001 度分辨率光谱仪测角仪。它具有低暗电流线性Si光电二极管检测装置，可用于低光测量。这允许用户在320-1100nm（UV-VIS-NIR）的波长范围内使用光谱仪测角仪。该仪器适用于定制实验和精密检查各种光学元件。开放灵活的设计便于快速修改仪器以适应定制应用。

该仪器也可用作光谱仪，用于观察和测量发射和吸收光谱。其他应用包括测量和测定棱镜的光角、通过测量反射和透射来表征薄膜、布儒斯特角光谱等。与棱镜一起使用时，它有助于观察按波长分散的可见光。与衍射光栅和气体放电管一起使用时，我们可以观察各种气体的发射光谱。根据光栅反射光的偏转角度，可以计算出光谱中每个电子跃迁的波长。

应用包括：
光谱学
发射光谱
吸收光谱
光栅和棱镜反射系数
二向色性等。

衍射
确定
凹槽间距
波长
双棱镜衍射等。

光学参数测量
光密度
反射率
透射率
吸收率
偏振角等