紫外-可见光谱克尔/法拉第全自动旋光度测试站推出了一款利用 UV-VIS-NIR 波长的创新型高灵敏度、高磁场光谱法拉第/克尔效应测量设备。 A216 FR/KR 测试站提供标准化测试解决方案，以适应广泛的旋光度测量应用。模块化硬件设计允许用户在法拉第和MOKE中进行自动测量。它旨在在200nm 至845nm的波长范围内进行磁光克尔和法拉第效应测量。它是基于 HARS 的极其灵活的测试站。任何具有克尔效应和法拉第效应的磁性薄膜、晶体或溶液都可以进行旋光度测量。

磁光克尔效应 (MOKE) 测量利用了光从磁化膜反射时偏振的旋转。它可用于测量磁性薄膜、纳米磁体阵列等的磁性。均匀的外部磁场会改变样品的偏振状态，这种变化可以用入射的线性偏振激光来测量，进而改变其初始偏振角。

通过应用TE冷却器可实现热依赖性测量。该系统可在-20°C至40°C的温度下以0.1°C的分辨率进行测量。在该装置上添加高压电源，还可以研究透明物质在外部电场下的光学活性。

性能：
旋光度测量分辨率：±0.005 度
检测灵敏度：0.001度（透明度大于 20%）。
椭圆度测量：±0.01 度。
旋光度测量范围：±90 度。
测量波长范围：200-845nm
光谱带宽：1nm（可变带通高达 10nm）
最大磁场：17,500 高斯
最小磁场检测：1 高斯
磁场精度：±0.05%

应用：
具有法拉第效应的薄膜、晶体、流体等的光学旋转
透明固体和液体的维尔德常数测量
法拉第旋转/椭圆度角。
极克尔旋转/椭圆度角。
所需波长下的磁场vs.法拉第旋转角特性
法拉第旋转角vs.波长色散特性
法拉第旋转角与热依赖性特性（可选）