它旨在测量波长200nm至850nm范围内的法拉第旋转角。该设备可以精确测量法拉第旋转的磁场依赖性。该法拉第效应测量设备的工作原理基于旋转分析仪方法。极隙为12mm时可产生最大15,000高斯的磁场。光学旋转测量分辨率为 ±0.01度。

通过使用可选设备，还可以测量热依赖性。它可以设计为安装加热腔室和低温恒温器，因此可以评估-70至 300°C范围内的热依赖性。该软件允许用户控制样品温度和磁场。

性能：
旋光度测量分辨率：±0.005 度（透明度大于 20%）
检测灵敏度：0.001度。
旋光度测量范围：±90度。
测量波长范围：200nm – 845nm
光谱带宽：1nm（可变通带高达10nm）
最大磁场：12mm极距时15,000高斯。
最小场强检测：1高斯
磁场精度：±0.05%

应用：
具有法拉第效应的薄膜、晶体、流体等的旋光度测量
透明固体和液体的维尔德常数测量
所需波长下的磁场与法拉第旋转角
法拉第旋转角与波长色散
法拉第旋转角与热依赖性（可选功能）

温度控制选项
型号: HC 300
样品加热室从室温到 300°C，用于测量温度依赖性。
通过加热器，范围从室温到 300°C，PID 热控制
设置分辨率：0.1°C
热传感器：Pt 100 欧姆

型号 : NC 70
低温样品架（氮气冷冻恒温器），
用液氮将样品冷却至 -70°C腔室。
设置分辨率：1°C
热传感器：Pt 100 欧姆

型号 : TE 20
加热/冷却方式：TE冷却器
温度范围：-20至40°C
热控方式：PID控制
热稳定性：±0.1℃