Z扫描技术是一种简单而流行的实验技术，用于测量材料的强度相关非线性磁化率。Z-SCAN表征套件是z扫描技术的简单实现，可用于表征光学材料。在该方法中，样品沿聚焦高斯光束的轴平移，远场强度作为样品位置的函数进行测量。基于局部响应，分析强度与样品位置的Z扫描曲线，可得出三阶磁化率的实部和虚部。

可以使用该设置进行标准开孔径和闭孔径z扫描测量。与z扫描相关的两个可测量量是非线性吸收 (NLA) 和非线性折射 (NLR)。这些参数与三阶非线性磁化率的虚部和实部相关，并提供有关材料特性的重要信息。

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