该系统专为测量波长385nm至845nm范围内的法拉第旋光角而设计。该设备可精确测量法拉第旋光的磁场依赖性。该法拉第效应测量设备的工作原理基于旋转分析仪方法。极隙为 12mm 时可产生最大15,000 高斯的磁场。旋光测量分辨率为±0.01度。

通过使用可选设备，还可以测量热依赖性。由于该系统设计用于安装加热室和低温恒温器，因此可以评估-70至300°C范围内的热依赖性。该软件允许用户控制样品温度和磁场。

性能：
旋光度测量分辨率：±0.009 度（透明度超过 20%）
检测灵敏度：0.009 度。
旋光度测量范围：±90 度。
测量波长范围：385nm -845nm
光谱带宽：1nm（可变通带高达 10nm）
最大磁场：12mm 极隙时 15,000 高斯
最小磁场检测：1 高斯
磁场精度：±0.05%

测量项目：
具有法拉第效应的薄膜、晶体、流体等的光旋度测量
测量透明固体和液体的维尔德常数
磁场vs.所需波长的法拉第旋转角
法拉第旋转角vs.波长色散
法拉第旋转角vs.热依赖性（可选功能）

温度控制选项：
型号：HC 85
样品室可从室温加热至 200°C，以测量温度依赖性。
温度范围从室温到 85°C，PID 热控制
设置分辨率：0.1°C
热传感器：Pt 100 Ohms

型号：NC 70
低温样品架（氮气低温恒温器）
用液氮将样品冷却至-70°c左右的腔体。
设置分辨率：1°C
热传感器：Pt 100 Ohms

型号：TE 05
加热/冷却方法：TE冷却器
温度范围：-5至40°C
热控制方法：PID控制
热稳定性：±0.5℃