A216 测试站是一款利用VIS-NIR波长的创新型高灵敏度和高磁场光谱椭圆偏振测量设备。提供标准化测试解决方案，以适应广泛的旋光度测量应用。模块化硬件设计允许用户在磁场和无磁场下自动测量液体、固体和薄膜样品。

专为磁光材料研究和测试而设计，包括铁磁和亚铁磁薄膜和材料的磁性表征。测量包括超薄磁性薄膜和多层膜的磁滞回线、椭圆度测量、介电材料的薄膜厚度测量、折射率、Delta 和 psi 测量等。系统可以在极化、纵向和横向配置下运行。

仪器设计用于使用由滨松（hamamatsu）制造的高灵敏度光电倍增管在380nm至845nm的波长范围内进行测量。这是一个基于 HARS 的极其灵活的测试站。可以测量任何具有磁场依赖性的磁性薄膜、晶体或溶液。

它可用于测量磁性薄膜和纳米磁体阵列的磁性能。在施加到样品的均匀磁场下测量薄膜厚度，可帮助用户表征各类材料。

性能：
测量波长范围：350-900nm
光谱带宽：1nm（可变带通高达 10nm）
最大磁场：17,500 高斯
最小场检测：1 高斯
磁场精度：±0.05%

测量光学特性：
薄膜厚度
折射率
吸收系数
光导率
相速度
群指数
布儒斯特角
摩尔折射率
光子能量
正则动量
动能
群速度
Psi – Delta
Epsilon 1 和 2

该装置还可加装高压电源，研究透明物质在外加电场作用下的光学活性。