电导率测量装置是一种计算机化的电导率装置，可通过在真空中改变温度来测量半导体薄膜样品的电导率。

测量时样品的温度可设置为环境温度至150°C的范围。通过施0-300V的电压范围并测量产生的电流，可在不同温度点测量电导率。软件会记录电流曲线，并绘制温度曲线。该过程在真空压力高达10-2 mbar的真空室内进行。旋转真空泵随仪器一起提供。

可进行实验
测量半导体薄膜样品的电导率
半导体具有各种有用的特性，可用于实现电子和光电子等领域的大量高性能设备。许多新型半导体，尤其是薄膜形式的半导体，正在不断开发中。随着薄膜变得越来越薄，其特性在电阻器、晶体管、电容器和太阳能电池等元件的小型化中变得越来越重要。

应用：
水质检测以确保法规遵从性。
化学制造以确保产品质量。
食品生产以确保安全和质量控制。环境监测以确保生态系统健康。药物制造以确保药品安全。